标准手动探针台
型号：hmp-800   可测8’’晶圆
型号：hmp-1200  可测12’’晶圆
此款探针台采用可靠的，高精度操作装置，非常易于操作，此款标准手动探针台支持宽范围应用，如：高温台（室温到200℃或300℃），亚微米级的操作和激光切割。
应用：
温度范围：室温到300℃
超低信号i-v测量（fa级）
各种c-v测量（准静态c-v, hf-cv，rf-cv）
rf测量（可到67ghz）
超高速i-v测量
扩展应用：
支持探卡（支持多点位晶圆可靠性测试wlr）
可加激光切割（点标记，保护层剥离，金属层切割）
显微镜可加亚微级精度，有效隔离振动，超高精度样品座
光电子中光接收/发散特性评估应用（如：led，ld，vcsel，pd）
高功率元器件测量（200a脉冲，+/-3kv三轴,+/-10kv同轴）
晶圆的可靠性测试（如：em，tddb，hci，nbti，bt）
手动高低温探针台
型号：hmp-800sc  可测8’’晶圆
型号：hmp-1200sc 可测12’’晶圆
此款手动探针台系统针对于新一代半导体装置设计，非常低的噪音和低的漏电流。在这个系统中，屏蔽的样品腔包含探针和样品台全部都在emi屏蔽环境中。此系统支持超低信号测试，1/f噪音测试，s参量测试，和高速i-v测试在控温变温环境中从-60℃到300℃（或者特殊环境到400℃）
这个探针台系统可选支持高电流和高电压功率测试。
hmp-610sc 6’’晶圆可选。
应用：
温度范围：室温到300℃或-60℃到300℃
超低信号i-v测量（fa级）
各种c-v测量（准静态c-v, hf-cv，rf-cv）[sub pf级]
1/f噪音评估
rtn（自由电子噪音）评估
高频噪音评估（到800mhz）
rf测量（到67ghz）/s 参数测量
超高速i-v测量
扩展应用：
支持探卡（支持多点位晶圆可靠性测试wlr）
光电子中光接收/发散特性评估应用（如：led，ld，vcsel，pd）
高功率元器件测量（200a脉冲，+/-3kv三轴,+/-10kv同轴）
晶圆的可靠性测试（如：em，tddb，hci，nbti，bt）

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